FUNDAMENTOS Bloque 6: Técnicas de Caracterización

¿Qué es cierto respecto al microscopio electrónico de barrido (SEM)?: La imagen se forma atravesando la muestra con los electrones. La imagen se forma barriendo la superficie con un haz de electrones. Utiliza lentes de vidrio para enfocar el haz. Tiene menos profundidad de campo que el microscopio óptico.

La señal de electrones secundarios en el SEM se utiliza principalmente para observar: La composición química (número atómico). La estructura cristalina interna. La topografía y rugosidad de la superficie. Las dislocaciones internas.

Para el análisis de la composición química puntual en el microscopio electrónico se emplea: La difracción de electrones. La espectroscopía de dispersión de energía de rayos X (EDS). La señal de electrones secundarios. La microscopía óptica.

¿Cuál es la principal ventaja del microscopio electrónico de transmisión (TEM) frente al SEM?: Su mayor poder de resolución (permite ver dislocaciones y planos atómicos). Es más barato y fácil de usar. Permite ver muestras muy gruesas. No requiere vacío.